IMPULSE NOISE(서지, Surge) 시험 vs EFT(Burst) 시험 요약
1) 목적
전자기 과도현상(Transient)으로부터 **제품의 내성(EMI Immunity)**을 검증하는 EMC 핵심 시험.
Surge(서지): 강한 과전압으로 인한 파괴 위험 평가
EFT(Burst): 빠른 반복 노이즈로 인한 오동작 위험 평가

2) 시험 개념 및 환경 재현
| 항목    | IMPULSE NOISE(Surge)    | EFT(Burst)              |
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| 국제규격  | IEC 61000-4-5            | IEC 61000-4-4            |
| 재현 환경 | 낙뢰 간접 유도, 대전력 스위칭        | 릴레이·인버터 스위칭 노이즈, 접촉 불량  |
| 주요 위험 | 고에너지 과전압 → 물리적 손상 가능    | 고속 반복 잡음 → 오동작, Reset 발생 |
| 파형    | 1.2/50 μs Surge Waveform | 수십 ns Pulse가 Burst로 반복  |
| 적용 라인 | 주로 Power Line, 접지        | Power/Signal/I/O Line 모두 |
| 시험 목적 | 절연 파괴/부품 내구성 평가          | 기능 안정성·통신 신뢰성 평가        |

3) 왜 둘 다 필요한가?
실제 환경에는 **강한 단일 충격(Surge)**과 **지속적 간섭(EFT)**이 모두 존재.
하나라도 미대응 시 → 산업 현장에서 예기치 못한 고장 발생

4) 설계 단계에서 고려해야 할 점
초기 EMC 설계에 반영하면 재설계 비용 ↓
적절한 접지(GND) 설계
Filter, SPD, TVS Diode 적용
노이즈 경로 최소화 PCB Layout
케이블 실드·차폐

5) 창일테크 관점
시험은 비용이 아니라 제품 생존과 신뢰성 확보를 위한 투자
산업 장비, EV·ESS 등에서는 사실상 필수
조기 대응 시 A/S 비용 절감 및 시장 경쟁력 향상

결론
Surge = 한 방 파괴 방지, EFT = 반복 간섭 대응
두 시험 모두 통과해야 실사용 환경에서 안정성 보장

전자기 충격 환경에서도 끄떡없는 제품을 만들기 위해 Surge + EFT는 반드시 함께 수행해야 한다.